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電子元器件高低溫沖擊測試箱

  • 電子元器件高低溫沖擊測試箱對各種金屬、非金屬及復合材料進行環境性能測試和分析研究，廣泛用于航天航空、石油化工、機械制造、車輛制造、
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  • 產品詳情

電子元器件高低溫沖擊測試箱

對各種金屬、非金屬及復合材料進行環境性能測試和分析研究，廣泛用于航天航空、石油化工、機械制造、車輛制造、電線電纜、紡織纖維、塑料橡膠、陶瓷建材、食品、醫藥包裝、金屬材料、建筑工程等行業，以及高等院校、科研院所、技術監督、質檢站所等部門.



技術參數：

型號 GT-TC-80 GT-TC-150 GT-TC-225 GT-TC-500 GT-TC-800 GT-TC-1000
內箱尺寸（WxHxD）mm 400x500x400 500x600x500 500x750x600 700x800x900 1000x1000x800 1000x1000x1000
溫度范圍 G：-20℃ ~ +100℃（150℃）；Z：-40℃ ~ +100℃（150℃）；D：-70℃ ~ +100℃（150℃）
結構 三箱式（低溫區、高溫區、測試區） / 兩箱式（低溫區、高溫區、吊籃）
氣門裝置 強制的空氣裝置氣門 / 吊籃
內箱材質 鏡面不銹鋼 SUS 304
外箱材質 霧面拉絲不銹鋼板 / 冷軋鋼板烤漆
測試架 不銹鋼架
冷凍系統 二段式
冷卻方式 半密閉式雙段壓縮機（水冷式）/全封閉式雙段壓縮機（風冷式）
高溫區溫度 +60 ℃～ +200 ℃
低溫區溫度 -10 ℃～ -80 ℃ /-10 ℃～ -70 ℃
高溫沖擊溫度范圍 +60 ℃～ +150℃
低溫沖擊溫度范圍 -10 ℃～ -55 ℃ /-10 ℃～ -65 ℃
溫度均勻度 ± 2 ℃
溫度波動度 ± 1.0 ℃
高溫沖擊時間 Rt ～ +150 ℃ /5min
低溫沖擊時間 Rt ～ -55 ℃ /5min       Rt ～ -65 ℃ /5min
預熱時間 45min
預冷時間 100min
注：另可根據客戶的要求設計客戶滿意的電子元器件高低溫沖擊測試箱